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OCT顯微檢測儀

節(jié)律光譜照度頻閃儀FD-SIT-LS

節(jié)律光譜照度計(jì)FD-SIT-LS-401

光譜照度頻閃儀FD-SIT-LS-302

光譜照度計(jì) FD-SIT-LS-301

雙通道EDI照度頻閃儀 FD-SIT-

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雙通道EDI照度計(jì)FD-SIT-LS-20

雙通道EML照度計(jì)FD-SIT-LS-20

照度頻閃儀FD-SIT-LS-102

OCT顯微檢測儀
時(shí)間:2024-03-08 12:09來源:訊技光電作者: 技術(shù)部點(diǎn)擊:次打印
技術(shù)原理
 
光學(xué)低相干層析(Optical Coherence Tomography,簡稱 OCT)是 20 世紀(jì) 90 年代初發(fā)展起來的低損、高分辨、非侵入式的醫(yī)學(xué)、成像技術(shù)。它的原理類似于超聲成像,不同之處是它利用的是光,而不是聲音。
 
通過使用寬帶波長光源和光譜儀,設(shè)備可以捕獲圖像根據(jù)光的波長通過干涉光譜分析。OCT能夠提供表面輪廓以及有關(guān)地下結(jié)構(gòu)和統(tǒng)一性使其能夠?qū)崟r(shí)提供準(zhǔn)確的信息,以進(jìn)行診斷,監(jiān)控,和原位過程反饋。
 
 
適用范圍
透明或者半透明膜層內(nèi)部結(jié)構(gòu)的厚度、瑕疵及損壞檢測
如電氣行業(yè)的三防漆,手機(jī)3D屏,透明樹脂涂層,柔性O(shè)LED等多行業(yè)
 
主要特性
實(shí)時(shí) ——可實(shí)時(shí)反饋處理生產(chǎn)線缺陷產(chǎn)品
高效 ——秒級檢測速度
無損 ——非接觸式、勿需破壞樣品
精度高 ——微米級成像精度
自動(dòng)化 ——可取代人工檢測,降低運(yùn)營成本
 

 
設(shè)備參數(shù)表
 
 
應(yīng)用領(lǐng)域
 

 
案例展示
1. 三防漆檢測(Conformal coating)
電路板上20~300μm薄膜,保護(hù)電路板免受環(huán)境的侵蝕而導(dǎo)致線路板失效。
典型質(zhì)量問題:
厚度不均勻;
氣泡和分層;
固化不均勻。
   

 
實(shí)時(shí)、在線、無損、快速的檢測手段--行業(yè)空白
 
2. OCT技術(shù)與金相切片對比
 
 
在芯片封裝中往往會有可能出現(xiàn)Resin的填充不良問題,其樹脂或者陶瓷填充材料可以被OCT技術(shù)透穿進(jìn)行光學(xué)檢測
 
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