技術(shù)原理:
光學(xué)低相干層析(Optical Coherence Tomography,簡稱 OCT)是 20 世紀(jì) 90 年代初發(fā)展起來的低損、高分辨、非侵入式的醫(yī)學(xué)、成像技術(shù)。它的原理類似于超聲成像,不同之處是它利用的是光,而不是聲音。
通過使用寬帶波長光源和光譜儀,設(shè)備可以捕獲圖像根據(jù)光的波長通過干涉光譜分析。OCT能夠提供表面輪廓以及有關(guān)地下結(jié)構(gòu)和統(tǒng)一性使其能夠?qū)崟r(shí)提供準(zhǔn)確的信息,以進(jìn)行診斷,監(jiān)控,和原位過程反饋。
適用范圍:
• 透明或者半透明膜層內(nèi)部結(jié)構(gòu)的厚度、瑕疵及損壞檢測
• 如電氣行業(yè)的三防漆,手機(jī)3D屏,透明樹脂涂層,柔性O(shè)LED等多行業(yè)
主要特性:
• 實(shí)時(shí) ——可實(shí)時(shí)反饋處理生產(chǎn)線缺陷產(chǎn)品
• 高效 ——秒級檢測速度
• 無損 ——非接觸式、勿需破壞樣品
• 精度高 ——微米級成像精度
• 自動(dòng)化 ——可取代人工檢測,降低運(yùn)營成本
設(shè)備參數(shù)表:
應(yīng)用領(lǐng)域:
案例展示
1. 三防漆檢測(Conformal coating):
電路板上20~300μm薄膜,保護(hù)電路板免受環(huán)境的侵蝕而導(dǎo)致線路板失效。
典型質(zhì)量問題:
厚度不均勻;
氣泡和分層;
固化不均勻。
實(shí)時(shí)、在線、無損、快速的檢測手段--行業(yè)空白
2. OCT技術(shù)與金相切片對比
在芯片封裝中往往會有可能出現(xiàn)Resin的填充不良問題,其樹脂或者陶瓷填充材料可以被OCT技術(shù)透穿進(jìn)行光學(xué)檢測
|