訊技光電科技（上海）有限公司多年來致力于在雜散光領域為廣大客戶提供全方位的顧問咨詢以及整體解決方案。我們擁有在此領域有多年經驗的專家工程師團隊，并掌握著最前沿的雜散光分析與測試技術。其服務主要包含以下三個方面：
□ 承接雜散光仿真服務
□ 散射測試服務
□ 定制光散射儀
一、承接雜散光仿真服務
雜散光會導致圖像中存在多余的光，從而降低成像的品質。對于探測系統來說，雜散光會降低系統的靈敏度。對于成像系統，可能會降低照片質量。對于投影系統，雜散光會在光束中產生不必要的亮斑。這些都會影響光學系統的性能。雜散光可能由透鏡表面間的多次反射、結構反射、CIS（MCMOS圖像傳感器）造成，也可能是由于紅外光學系統自身熱輻射所產生。這些雜散光都有可能對正常的成像造成影響。隨著光學系統探測要求越來越高，雜散光會影響光學系統的性能，降低成像對比度和畫面質量，甚至影響信號，因此對雜散光進行分析和抑制的要求也逐步受到關注，也成為是光學系統像質檢測的必要環節之一。雜散光仿真服務包括:
□ 光學系統內部機構件表面的反射光
□ 漏光
□ 從系統光學表面的灰塵或其他缺陷處反射出來的散射光
□ 對于地面天文學來說，由城市上空大氣的光反射引起的天空輝光
□ 太陽、地球和月球的軌道望遠鏡雜散光。
□ 衍射雜散光
□ 冷反射&熱輻射
□ 雜光復算
雜散光的分析與抑制是成像系統設計中一個重要而復雜的課題。本公司代理的FRED軟件是美國Photon Engineering公司開發的一款雜散光分析軟件，與其它軟件對比，FRED軟件以雜散光仿真計算準確、功能全面、仿真速度快(CPU多達127線程的計算能力&支持GPU計算)，其知名度和市場已經遍布全世界，現任公司總裁兼聯合創始人Richard Pfisterer作為散射理論/測量和雜散光分析方面的世界領先權威人士。具有35年以上的成像和非成像系統光學設計、軟件開發、光學系統分析、光束傳播和物理光學建模/仿真經驗，Photon Engineering已成為北美領先的光學咨詢集團。
圖1. 詹姆斯韋伯太空望遠鏡散射仿真與實測對比，Stray light modeling of the James Webb Space Telescope (JWST) Integrated Science Instrument Module (ISIM) https://doi.org/10.1117/12.2238827
圖2. TMT30米望遠鏡模型 紅色攝像頭的鬼像輻照度（四個量的雜散光計算：關鍵物體的識別、預估雜散光背景、離軸抑制特性PST、鬼像的形成）
二、散射測量服務
光散射測量的方法也是減少雜散光對設計性能的一種方式。本公司系列的BSDF表面散射測量提供了一種快速、準確的方法來模擬光散射量，從而在制造之前評估光學加工對光學產品性能的影響。
主要測量功能及參數：
□ 基于ASTM E2387標準的角分辨散射（BSDF，ARS）
□ 基于ISO 13696標準的總散射值TS（Total Scattering）
□ 覆蓋整個3D空間的散射分布（2D& 3D）
□ 高靈敏度，對應于ppm級的散射損耗和亞納米級的粗糙度
□ 測量模式：ARS , BRDF, BTDF, R, T, TS, 表面粗糙等
□ 波長測量范圍：320nm～1550nm范圍內單波長可選；紅外波段（4.6um, 10.6um）
□ 表面類型：平面&曲面
□ 超精細角度分辨率：可到（0.01°）
□ 最小接近角：≤0.1°
□ 系統重復性精度：優于±2%（RMS）
□ 最大樣品直徑：100mm
□ 最大樣品重量：約 500g
□ 測試數據輸出格式：FRED /ASTM /LightTools / TracePro / ASAP / ZEMAX/ SPEOS/ OP TIS/ OptiCAD（可定制）
除了軟件分析，光散射測量的方法也是減少雜散光對設計性能的一種方式。本公司系列的BSDF表面散射測量提供了一種快速、準確的方法來模擬光散射量，從而在制造之前評估光學加工對光學產品性能的影響。
可測量波長概覽
應用領域：
超級光滑表面，超粗糙表面，衍射光柵，光學成像應用，薄膜干涉，黑色涂層，曲面光學元件，微型或超大光學元件。
測量實例：
無樣品時對空氣進行ARS測試：
圖 3. 無樣品時的ARS測量（@405 nm,532nm and 640nm）
圖4. 近紅外下對Acktar[1]黑色涂層的散射測量，左圖：用于BepiColombo太空任務的紅外光譜儀；右圖：4.6  下ARS角分辨散射分布，入射角0°，10°，40°，60°，80°。
圖5. 金剛石車削的鋁反射鏡，金剛石打磨的Al鏡的3D光散射分布及其白光干涉儀的表面形貌測量：左圖：車削痕跡引起的衍射為主的散射分布；右圖：振動引起的衍射峰被抑制而入射面外散射增強的散射分布。
圖6. 金剛石打磨拋光鋁鏡的散射掃描及其相應位置的ARS測量，左圖: 散射掃描@532nm，散射角25°，樣本大小200*160mm 2；右圖：相應位置ARS測量。
備注：
[1] T. Kralik, D. Katsir, "Black surfaces for infrared, aerospace, and cryogenic applications", Proc. SPIE 7298, 729813 (2009)
三、定制光散射系統
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