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OCT顯微檢測儀

節(jié)律光譜照度頻閃儀FD-SIT-LS

節(jié)律光譜照度計(jì)FD-SIT-LS-401

光譜照度頻閃儀FD-SIT-LS-302

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雙通道EDI照度頻閃儀 FD-SIT-

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雙通道EDI照度計(jì)FD-SIT-LS-20

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照度頻閃儀FD-SIT-LS-102

角分辨散射測量儀ALBATROSS
時間:2017-02-07 10:45來源:訊技光電作者: 營銷部點(diǎn)擊:次打印
左圖:角分辨光散射測量儀ALBATROSS;右圖:532 nm濾光片在不同波長下的ARS分布。
 
系統(tǒng)簡介
 
ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一個大型的測量樣本反射光,透射光,以及散射光分布的實(shí)驗(yàn)室測量系統(tǒng)。其特點(diǎn)是對角度的靈敏度高,并且該系統(tǒng)可以測量三維空間中的散射分布。被測樣本包含光學(xué)和非光學(xué)表面以及其他光學(xué)材料和光學(xué)元件。其光源系統(tǒng)為變頻OPO激光,也可測量光散射的光譜特性。
 
特征及技術(shù)參數(shù)
 
-  可測量參數(shù):散射光(角分辨散射ARS,雙向反射分布BRDF,
-  雙向透射分布BTDF,散射損耗),θ-2θ測量,反射,透射。(3D)
-  入射光與探測器可共面或異面。
-  入射角,散射角(方位角和極角)以及光源的偏振態(tài)均可調(diào)整。
-  可對樣品進(jìn)行掃描。
-  動態(tài)范圍: 13個數(shù)量級。
-  最低ARS級別:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。
-  對粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。
-  波長范圍:225 nm 至 1750 nm (光譜帶寬<0.05 nm)。
-  樣本規(guī)格:最大尺寸直徑700mm。
-  方便操作的測量及分析軟件。
-  可分析值: 粗糙度,PSD等。
 
應(yīng)用
 
對表面,薄膜以及材料性質(zhì)進(jìn)行表征和分析
-  產(chǎn)品質(zhì)量檢測。
-  光學(xué)性能分析。
-  粗糙度分析。
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