MonoVista -P是基于美國Princeton Instruments公司的科學(xué)級(jí)光譜儀和CCD探測(cè)器而開發(fā)的新一代光學(xué)工作站，高性能模塊化設(shè)計(jì)，根據(jù)用戶的應(yīng)用，配置不同的系統(tǒng)，適合各種光學(xué)測(cè)試，可做顯微拉曼光譜，PL，生物發(fā)光，化學(xué)發(fā)光等科研領(lǐng)域，全開放式結(jié)構(gòu)，系統(tǒng)擴(kuò)展性強(qiáng)，可任意和低溫冷指，AFM，磁場(chǎng)，壓力池，探針臺(tái)等設(shè)備連用。
基于PI的單級(jí)光譜儀開發(fā)的光學(xué)工作站
光學(xué)工作站？
根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求配置硬件
激光共焦顯微拉曼測(cè)試
宏光路拉曼光譜
PL光譜
時(shí)間分辨光譜，熒光壽命
紫外，可見，紅外波段
樣品可以放置在高低溫冷指，壓力容器，真空室，磁場(chǎng)，可以聯(lián)用AFM，STM，探針臺(tái)等
結(jié)構(gòu)穩(wěn)定，不需專業(yè)人員維護(hù)
可以采用正置和倒置顯微鏡系統(tǒng)
如果您已經(jīng)有光譜儀測(cè)試系統(tǒng)，我們可以升級(jí)成光學(xué)工作站
主要技術(shù)指標(biāo)：
• 光譜儀焦長(zhǎng)：300mm，500mm或750mm
• 光譜分辨率（FWHM）：0.4cm-1 – 1cm-1
• CCD像元分辨率：0.18cm-1 – 0.42cm-1
• 光譜測(cè)試范圍：200nm – 20um
• 空間分辨率：水平<1cm-1，垂直<2cm-1
• 多種高靈敏度CCD探測(cè)器，EMCCD，ICCD
• 未經(jīng)改裝的研究級(jí)正置或倒置顯微鏡，可以選用原廠所有附件
• 顯微鏡專用高分辨率彩色攝像頭
• 激光器選配：244nm – IR，連續(xù)，脈沖，OPO
• 大尺寸XY自動(dòng)平臺(tái)：101 x 76mm，分辨率25nm
• Z-軸自動(dòng)聚焦，分辨率50nm
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