Core
增加了不鍍膜基底橢偏數(shù)據(jù)的光學(xué)常數(shù)提取，為了能使用橢偏數(shù)據(jù)，從Macleod Tools菜單欄中選擇Substrate n, k & T并選擇 Ellipsometer按鈕。
現(xiàn)在可以在help下選擇user manual直接打開Macleod英文手冊
反演工程現(xiàn)在支持基底雙邊鍍膜的情況。
反演工程現(xiàn)在可以在標(biāo)題欄顯示優(yōu)化器。對于Simplex, 會顯示“<S>” ；對于Differential Evolution會顯示 “<DE>”
如果基底的內(nèi)透過率數(shù)據(jù)不全是lossess, 反演工程現(xiàn)在需要基底的材料文件。
優(yōu)化目標(biāo)增加了平均值的計(jì)算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。
用戶自定義的功率分布添加到了cone計(jì)算里面，此分布可選定reference文件（作為角度的函數(shù)）。
當(dāng)有新數(shù)據(jù)導(dǎo)入到光學(xué)常數(shù)工具中，它會清理已經(jīng)計(jì)算的結(jié)果。
在注冊菜單中增加了email按鈕，授權(quán)表格可以非常容易的創(chuàng)建key請求。
Design中的薄層膜(非厚層膜)增加了Back Reflectance顏色分析功能。
Runsheet
“Monitor Type”現(xiàn)在包含在 NVision導(dǎo)出中， NVision 光學(xué)監(jiān)控器可以預(yù)先選擇監(jiān)控類型。
Function
雙加腳本編輯器的文件將會制作該腳本。
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