第三屆光學(xué)薄膜前沿國際會議(FOC2014, the 3rd International conference on Frontiers of Optical Coatings)將于2014年10月20日-24日在上海舉行。
FOC是在亞洲舉辦的最高水平的國際光學(xué)薄膜學(xué)術(shù)會議。自2009年起每3年舉辦一次，本次會議旨在匯集全球?qū)W者、研究技術(shù)人員及工業(yè)界人士，促進國內(nèi)外光學(xué)薄膜研究機構(gòu)和工業(yè)界的學(xué)術(shù)交流，討論光學(xué)薄膜領(lǐng)域的最新進展及其前沿應(yīng)用。
會議詳情：http://foc.#edu.cn/index.php?classid=5971
會議時間： 2014年10月21-23日
會議地址： 上海市四平路1239號同濟大學(xué)物理館701
訊技展位號： A10
參展產(chǎn)品推薦：
Essential Macleod光學(xué)薄膜分析與設(shè)計軟件
Essential Macleod是一套完備的光學(xué)薄膜分析與設(shè)計的軟件包，可以在所有 64/位32 位的Microsoft Windows操作系統(tǒng)下運行，并且具有真正的多文檔操作界面；它能滿足光學(xué)鍍膜設(shè)計中的各種要求，從簡單的單層膜到嚴(yán)格的分光膜；也能對波分復(fù)用（WDM）和密集波分復(fù)用（DWDM）濾波片進行測評；可以從頭開始設(shè)計也可以優(yōu)化已有的設(shè)計；可以勘測在設(shè)計中的誤差，也可以萃取設(shè)計用到的光學(xué)薄膜常數(shù)。
核心模塊的功能：
•計算給定膜系的特性
•對給定特性目標(biāo)要求優(yōu)化膜系設(shè)計
•維護材料的光學(xué)常數(shù)
•對已有設(shè)計進行分析
•膜系設(shè)計的合并分析
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