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利用邁克爾遜干涉儀和傅里葉變換光譜進行相干測量
時間:2023-06-20 16:16來源:訊技光電作者: 技術(shù)部點擊:次打印
摘要

眾所周知,在干涉儀中,條紋對比度可能取決于光源的相干性。例如,在配有一定帶寬源的邁克爾遜干涉儀中,干涉條紋對比度隨著兩臂之間的光程差的增加而減小。通過測量可移動反射鏡在不同位置的干涉圖對比度,可以得出光源的相干長度。典型的傅立葉變換光譜學(xué)通常是基于這類光學(xué)裝置。
 
 
建模任務(wù) 
 
 
非序列追跡
 
 
探測器附加組件
 
 
參數(shù)運行
 
 
總結(jié)-組件
 
 

 
橫向干涉條紋–50 nm帶寬
 
 
橫向干涉條紋–100 nm帶寬
 
 
軸上點的輻射通量測量
 
 
VirtualLab Fusion 技術(shù)
 
文件信息
 
 
更多閱覽
-基于激光的邁克爾遜干涉儀與干涉條紋探測
-馬赫-曾德爾干涉儀
-用于光學(xué)測試的斐索干涉儀
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