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光柵內(nèi)部光場分析器
時(shí)間:2023-06-07 16:22來源:訊技光電作者: 技術(shù)部點(diǎn)擊:次打印
摘要

組件內(nèi)部光場分析器: FMM使用戶能夠研究微觀和納米結(jié)構(gòu)內(nèi)的電磁場分布。為此,通過應(yīng)用傅里葉模態(tài)法/嚴(yán)格耦合波分析(FMM/RCWA)計(jì)算任意周期結(jié)構(gòu),包括透射和反射光柵、介電或金屬光柵。也可以指定領(lǐng)域的哪一部分應(yīng)該可視化:正向模式,反向模式,或兩者結(jié)合。

 
尋找組件內(nèi)部光場分析器: FMM

          
組件內(nèi)部光場分析器: FMM是光柵光學(xué)設(shè)置的專用功能,它提供了光柵結(jié)構(gòu)內(nèi)部電磁場的可視化。
 
 
評估模式
  
 
評估區(qū)域
 
 
光柵類型
 

 
光柵表面的采樣
 
 
光柵表面的采樣
 
 
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更多閱讀
• Thin Element Approximation (TEA) vs. Fourier Modal Method (FMM) for Grating Modeling 
• Configuration of Grating Structures by using special Media 
• Analysis Blazed Grating Analysis by Fourier Modal Method 
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