1. 摘要
VirtualLab可以通過對(duì)光學(xué)系統(tǒng)僅一次建模而使用不同的追跡技術(shù)對(duì)其進(jìn)行分析。這包括光線追蹤以與場(chǎng)追蹤。 通過VirtualLab的非序列擴(kuò)展，可以輕松地在序列和非序列之間對(duì)光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行分析。本例演示了如何對(duì)您的系統(tǒng)執(zhí)行非順序分析。 作為范例，我們將使用一個(gè)平板，其第二個(gè)表面微傾。
2. 建模任務(wù)
在這個(gè)用例中，我們將說明用戶如何輕松切換序列和非序列系統(tǒng)分析。
為了演示目的，我們使用平面波來照射平板。
我們對(duì)平板反射的光線感興趣。
組件由兩個(gè)平面接口組成，其中第二個(gè)面傾斜0.1°
3. 示例系統(tǒng)
通過系統(tǒng)配置文件指定系統(tǒng)參數(shù)。
4. 非序列追跡的選擇
在光學(xué)系統(tǒng)屬性窗口中，你可以選擇執(zhí)行序列追跡或者非序列追跡。
該屬性選項(xiàng)會(huì)作用在以下引擎：
- 光線追跡
- 光線追跡系統(tǒng)分析器
- 第二代場(chǎng)追跡
5. 序列光線追跡結(jié)果
通過執(zhí)行光線追跡系統(tǒng)分析器，可以顯示一個(gè)3D光線分布。
在序列光線追蹤的情況下，只評(píng)估第一個(gè)表面的反射光。
6. 序列場(chǎng)追跡結(jié)果
使用相機(jī)探測(cè)器作為系統(tǒng)探測(cè)器。
其可以計(jì)算探測(cè)器平面的能量強(qiáng)度分布
使用序列場(chǎng)追跡，一個(gè)平面波照射探測(cè)器，并以設(shè)定的色域顯示。
7. 選擇非序列追跡
可以通過在屬性窗口中更改屬性Non-Sequential Tracing來激活非序列分析。
如果選擇此選項(xiàng)，VirtualLab將提供多個(gè)選項(xiàng)來控制非序列追跡技術(shù)。
這些選項(xiàng)在另一個(gè)案例中介紹。
8. 非序列光線追跡結(jié)果
左側(cè)的屏幕截圖顯示了光線追跡3D分析器的結(jié)果。
圖中可見，光線追跡引擎對(duì)第一平面和第二平面之間的內(nèi)部反射進(jìn)行了計(jì)算操作。
9. 非序列場(chǎng)追跡結(jié)果
相機(jī)探測(cè)器現(xiàn)在由兩個(gè)平面波照明。
強(qiáng)度分布圖顯示了這些模式的干涉圖案。
這種干涉圖案是由第二個(gè)表面相對(duì)于第一個(gè)表面的小傾斜造成的。
10. 文件和技術(shù)信息
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