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用于微結(jié)構(gòu)晶片檢測的光學(xué)系統(tǒng)
時間:2018-04-26 14:01來源:訊技光電作者: 技術(shù)部點擊:次打印
摘要

在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中,晶片檢測系統(tǒng)用于檢查晶片上的缺陷并找到它們的位置。為保證微結(jié)構(gòu)的圖像解析度,檢測系統(tǒng)常使用一個高NA的物鏡,工作在紫外波長范圍。作為一個例子,模擬了一個完整的晶片檢測系統(tǒng),包括高NA聚焦效應(yīng)和光與微結(jié)構(gòu)的互作用,并演示了圖像的形成。
 
 
建模任務(wù)
 
 
結(jié)果
 
 
結(jié)果
 

 
結(jié)果
 
 
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