1. Essential Macleod概況及其基本操作
1.1 Macleod軟件特點介紹
1.2 程序快速入門
1.3 Macleod軟件基本框架及參數(shù)設(shè)置
2. 數(shù)據(jù)管理
2.1Macleod軟件中的數(shù)據(jù)類型
2.2數(shù)據(jù)的輸入與輸出
2.3Plot 、3D Plot與 Table操作技巧
3. 光學(xué)薄膜基本原理
3.1介質(zhì)和波
3.2垂直入射時的界面和薄膜特性計算
3.3傾斜入射時的界面和薄膜特性計算
3.4后表面對光學(xué)薄膜特性的影響
3.5光學(xué)薄膜設(shè)計理論
4. 材料管理
4.1光學(xué)薄膜材料性能及應(yīng)用評述
4.2金屬與介質(zhì)薄膜
4.3材料模型
4.4介質(zhì)薄膜光學(xué)常數(shù)的提取
4.5金屬薄膜光學(xué)常數(shù)的提取
4.6基板光學(xué)常數(shù)的提取
4.7光學(xué)常數(shù)導(dǎo)出遇到的問題及解決思路
5. 光學(xué)薄膜設(shè)計
5.1光學(xué)薄膜設(shè)計的進(jìn)展
5.2光學(xué)薄膜設(shè)計中的一些實際問題
5.3光學(xué)薄膜設(shè)計技巧
5.4特殊光學(xué)薄膜的設(shè)計方法
5.5Macleod軟件的設(shè)計與優(yōu)化功能
5.5.1優(yōu)化目標(biāo)設(shè)置
5.5.2優(yōu)化方法（單一優(yōu)化，合成優(yōu)化，模擬退火法，共軛梯度法，準(zhǔn)牛頓法，針形優(yōu)化，差分演化法）
5.5.3膜層鎖定和鏈接
6. 常規(guī)光學(xué)薄膜系統(tǒng)設(shè)計與分析
6.1減反射薄膜
6.2分光膜
6.3高反射膜
6.4干涉截止濾光片
6.5窄帶濾光片
6.6負(fù)濾光片
6.7非均勻膜與Rugate濾光片
6.8Vstack薄膜設(shè)計示例
6.9Stack應(yīng)用范例說明
6.10應(yīng)力、散射及均勻性分析
7. 誤差、容差與光學(xué)薄膜監(jiān)控技術(shù)
7.1光學(xué)薄膜監(jiān)控技術(shù)
7.2誤差分析與監(jiān)控決策
7.3Runsheet 與 Simulator應(yīng)用技巧
7.4膜系靈敏度分析
7.5膜系容差分析
7.6誤差分析工具
8. 光譜測試分析
8.1單層膜分析
8.2多層膜分析
8.3反演模擬的注意事項
8.4Macleod反演分析工具——Reverse Engineer
9. 項目管理與應(yīng)用實例
9.1項目管理
9.2光學(xué)薄膜項目開發(fā)過程
9.3客戶需求分析
9.4文檔管理與報表生成
9.5Macleod 軟件在太陽能薄膜中的應(yīng)用
9.6Macleod 軟件在觸摸屏設(shè)計中的應(yīng)用
9.7Macleod 軟件在光電功能薄膜中的應(yīng)用
9.8Macleod 軟件在建筑玻璃鍍膜中的應(yīng)用
|
課程邀請函